IC引線框架視覺檢測設備
檢測設備包括光學成像,圖像處理,深度學習和自動化技術結合一起,滿足各類瑕疵,缺陷檢測需求
設備參數設備型號SJH-CF100-1.0最小檢測精度0.01*0.01mm 設備定位精度0.01mm定位方式CCD高精度對位相機配置可選品牌,最高支持6500萬像素視野大小根據需求定制工作方式單面/雙面檢測控制方式PLC/工控機運動控制+伺服系統檢測方式支持靜態/動態檢測畫面彩色/黑白雙面檢測運轉速度0.1-20m/min (速度可調節)電氣參數AC220/800-1200w設備尺寸750*600*1800mm設備應用范圍IC產品,沖壓件,電鍍產品,其他電子元件缺陷,瑕疵外觀檢測